FEI Company TitanG2 Cubed 60-300
Double Corrector / Probe Corrector
Field Emission 電子銃
収差補正機能
Double Corrector機：照射系ならびに結像系に収差補正装置搭載
Probe Corrector機：照射系に収差補正装置搭載
エネルギー分散型X線分析（EDS）
クライオ電子顕微鏡 【JEOL CRYO ARM 300II】
【設置場所】多元物質科学研究所
【主要スペック】
１）本体 CRYO ARMTM 300Ⅱ（JEOL)
電子銃 冷陰極電界放出型電子銃
撮影モード TEM,STEM,DIFF
加速電圧 300kV/200kV
位相板 ホールフリー位相板
エネルギーフィルター インカラム型オメガフィルター
試料ステージ
使用冷媒 液体窒素（自動供給機構組込み）
試料冷却温度 100K以下
試料傾斜 モーター駆動（±70°）
試料交換装置 自動制御クライオトランスファー機構
試料ストレージ 最大12個保持可能
その他 エンクロージャー、磁場キャンセラーなどを設置し、外乱を抑えた最適な環境
２）検出器
電子直接検出型カメラ K3（AMETEK Gatan)
CMOS カメラ XF416ES(TVIPS)
３）試料作製装置
浸漬凍結装置 EM GP2(Leica)
親水化処理装置 DⅡ-29020HD (JEOL), JEC-3000FC(JEOL)
クライオウルトラミクロトーム UC/FCシリーズ(Leica)
真空蒸着装置 IB-29510VET(JEOL)
JEOL JEM-ARM200F
【設置場所】金属材料研究所
加速電圧 80-200kV
冷陰極型電子銃
収差補正機能：照射系ならびに結像系
電子エネルギー損失分光分析（EELS）
エネルギー分解能 0.3 eV
エネルギー分散型X線分析（EDS）
検出器＝100 mm2